ENEA-IRIS Open Archive è l’archivio della produzione scientifica dell'ENEA, realizzato con l'obiettivo di raccogliere, catalogare e rendere facilmente accessibili in rete i risultati della ricerca. Gli autori dell’ENEA provvedono a depositare le proprie pubblicazioni (articoli su rivista, presentazioni a congressi, report, ecc.). In particolare, quelle finanziate dalla Commissione Europea nell’ambito del programma H2020 (che prevede il deposito obbligatorio in un Repository), una volta caricate, vengono automaticamente importate dal portale europeo OpenAIRE. È possibile inserire, o importare direttamente dalle banche dati previste, le informazioni descrittive del documento e anche allegare, ove consentito dalla normativa sul diritto d'autore, il testo completo della pubblicazione.
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EnglishIn this work, we combined AFM, FE-SEM and Raman spectroscopy to study the commercially available CVD grown graphene on Cu and Si substrate. SEM and AFM provide topographic information, show a network of out of plane deformations, 'wrinkles', whereas Raman spectroscopy which can give information on structural properties of the graphene films, such as the number of layers and level of disorder, by observing the peaks, indicates a I2D/IG ratio smaller than the value expected for mono-layer graphene. © 2018 Author(s).
| Titolo: | Investigation of CVD grown graphene topography | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2018 | |
| Rivista: | ||
| Handle: | http://hdl.handle.net/20.500.12079/4900 | |
| ISBN: | 9780735417069 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/20.500.12079/4900
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