In questo report sono riportati, descritti e discussi i risultati relativi alla caratterizzazione microstrutturale, morfologica e meccanica di rivestimenti di TiN, FeAl (Fe (67wt%)Al(33wt%) e FeCrAl (FeCr(18-20wt%)Al(8-10wt%)), depositati da CSM su quattro diversi tipi di substrati, due ferritici (i.e. P91 e 441) e due austenitici (i.e. 304 e 316). Tali rivestimenti sono stati oggetto di un’ampia e completa campagna sperimentale principalmente volta a investigare la natura dei rivestimenti prodotti, la loro morfologia, microstruttura e adesione al substrato. A tale scopo i campioni forniti sono stati sottoposti a misure di diffrazione a raggi X (XRD) per identificare le fasi cristalline presenti e determinarne la dimensione media dei cristalliti, osservazione al microscopio elettronico a scansione (FEG-SEM) per investigarne la morfologia, l'omogeneità, l'uniformità e stimarne lo spessore, a microanalisi di spettroscopia a dispersione di energia (EDS) per valutarne qualitativamente la composizione chimica e la distribuzione degli elementi costituenti, test di bending a tre punti per stimarne l'adesione al substrato sottostante. Sono state, inoltre, studiate dal punto di vista termico e microstrutturale le sorgenti FeAl e FeCrAl prodotte da CSM e utilizzate per le deposizioni, al fine di dimostrarne e confermarne la composizione e purezza

Caratterizzazione di rivestimenti PVD di TiN, FeAl, FeCrAl su substrati metallici

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2012-09-17

Abstract

In questo report sono riportati, descritti e discussi i risultati relativi alla caratterizzazione microstrutturale, morfologica e meccanica di rivestimenti di TiN, FeAl (Fe (67wt%)Al(33wt%) e FeCrAl (FeCr(18-20wt%)Al(8-10wt%)), depositati da CSM su quattro diversi tipi di substrati, due ferritici (i.e. P91 e 441) e due austenitici (i.e. 304 e 316). Tali rivestimenti sono stati oggetto di un’ampia e completa campagna sperimentale principalmente volta a investigare la natura dei rivestimenti prodotti, la loro morfologia, microstruttura e adesione al substrato. A tale scopo i campioni forniti sono stati sottoposti a misure di diffrazione a raggi X (XRD) per identificare le fasi cristalline presenti e determinarne la dimensione media dei cristalliti, osservazione al microscopio elettronico a scansione (FEG-SEM) per investigarne la morfologia, l'omogeneità, l'uniformità e stimarne lo spessore, a microanalisi di spettroscopia a dispersione di energia (EDS) per valutarne qualitativamente la composizione chimica e la distribuzione degli elementi costituenti, test di bending a tre punti per stimarne l'adesione al substrato sottostante. Sono state, inoltre, studiate dal punto di vista termico e microstrutturale le sorgenti FeAl e FeCrAl prodotte da CSM e utilizzate per le deposizioni, al fine di dimostrarne e confermarne la composizione e purezza
Rapporto tecnico;Caratterizzazione dei materiali;Tecnologie dei materiali
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